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檢測執(zhí)行標準信息一覽：
標準簡介：本標準對紅外焦平面陣列特性參數(shù)及相關(guān)量進行了定義。本標準給出了紅外焦平面陣列特性參數(shù)的測試方法及測試條件。本標準適用于線列和面陣紅外焦平面陣列。
標準號：GB/T 17444-2013
標準名稱：紅外焦平面陣列參數(shù)測試方法
英文名稱：Measuring methods for parameters of infrared focal plane arrays
標準類型：國家標準
標準性質(zhì)：推薦性
標準狀態(tài)：現(xiàn)行
發(fā)布日期：2013-11-12
實施日期：2014-04-15
中國標準分類號（CCS）：電子元器件與信息技術(shù)>>光電子器件>>L52紅外器件
國際標準分類號（ICS）：電子學>>31.260光電子學、激光設(shè)備
替代以下標準：替代GB/T 17444-1998
起草單位：中國科學院上海技術(shù)物理研究所
歸口單位：工業(yè)和信息化部電子工業(yè)標準化研究所
發(fā)布單位：國家質(zhì)量監(jiān)督檢驗檢疫.
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